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氮化镓(GaN)
  • GaN材料具有禁带宽度大、击穿电场高、电子迁移率高等特性,使得GaN功率器件具备高频、高效、低导通损耗、高功率密度等显著优势,是研制微电子器件、光电子器件的新型半导体材料,与SiC、金刚石等半导体材料一起,被誉为是继第一代Ge、Si半导体材料、第二代GaAs、InP化合物半导体材料之后的第三代半导体材料。它具有宽的直接带隙、强的原子键、高的热导率、化学稳定性好(几乎不被任何酸腐蚀)等性质和强的抗辐照能力。
产品介绍

氮化镓‌(GaN)

 

GaN材料具有禁带宽度大、击穿电场高、电子迁移率高等特性,使得GaN功率器件具备高频、高效、低导通损耗、高功率密度等显著优势,是研制微电子器件、光电子器件的新型半导体材料,与SiC、金刚石等半导体材料一起,被誉为是继第一代GeSi半导体材料、第二代GaAsInP化合物半导体材料之后的第三代半导体材料。它具有宽的直接带隙、强的原子键、高的热导率、化学稳定性好(几乎不被任何酸腐蚀)等性质和强的抗辐照能力。

性能参数Specifications

分子式

GaN

晶体结构

纤锌矿型六方晶系 P6₃mc

晶胞参数

a ≈   3.19 Å,c ≈ 5.19 Å

熔点

1700℃

密度

6.1   g/cm3

生长方法

HPVE(氢化物气相外延)

莫氏硬度

8-9

禁带宽度

3.4eV

热导率

130W/(m·K)

导电类型

N-type(掺Si

非掺

Semi-Insulating(掺Fe

电阻率

< 0.02 Ω·cm

< 0.5·cm

>106 Ω·cm

电子迁移率

2000cm²/(V·s)

饱和漂移速度

2.2×10cm/s

晶向及公差

<0001>±0.5°

参考边晶向及公差

<1-100>±1°

尺寸

5*5mm10*10mm20*20mmØ50.8Ø100

厚度

0.3mm0.65mm

位错密度

 ≤ 5x106 cm-2

有效面积

≥90%

 


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